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德國菲希爾 XULM 鍍層厚度測量儀

德國菲希爾 XULM 鍍層厚度測量儀

簡要描述：
德國菲希爾 XULM 鍍層厚度測量儀，可在微小樣品上測量鍍層厚度（包括金層測厚、銀層測厚和化金厚度等）和進行材料分析。

更新時間：2016-11-24

訪問量：1990

廠商性質：經銷商

生產地址：

XULM鍍層厚度測量儀的特點：

  • 用途廣泛的鍍層厚度測量儀，包括金層測厚、銀層測厚和化金厚度等；
  • 通過組合可選的高壓和濾片，可以對較薄的鍍層（如50 nm Au 或 100 μm Sn）和較厚的鍍層進行同樣效果的測量；
  • 配有的微聚焦管，可以測量100 μm大小的微小測量點；
  • 比例計數器可實現數千cps（每秒計數率）的高計數率；
  • 從下至上的射線方向，從而可以快速簡便的放置樣品；
  • 底部C型開槽的大容量測量艙。

 

XULM鍍層厚度測量儀典型應用領域：

  • 測量線路板工業中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的鍍層；
  • 電子行業中接插件和觸點上的鍍層；
  • 裝飾性鍍層Cr/Ni/Cu/ABS；
  • 電鍍鍍層，如大規模生產零件（螺栓和螺母）上的防腐蝕保護層Zn/Fe，ZnNi/Fe；
  • 珠寶和鐘表工業；
  • 測量電鍍液中金屬成分含量，例如金層測厚、銀層測厚。

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